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GB∕T 4937.31-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的)
GB∕T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)
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GB∕T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存
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GB∕T 5169.34-2023 电工电子产品着火危险试验 第34部分:着火危险评定导则 起燃性 试验方法概要和相关性
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GB∕T 4798.4-2023 环境条件分类 环境参数组分类及其严酷程度分级 第4部分:无气候防护场所固定使用
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GB∕T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
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GB∕T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)
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